IEC 60747-4 AMD 1-1993 半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管修改1
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时间:2024-04-20 21:34:01
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【英文标准名称】:Semiconductordevices;discretedevices;part4:microwavediodesandtransistors;amendment1
【原文标准名称】:半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管修改1
【标准号】:IEC60747-4AMD1-1993
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1993-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Electricalengineering;Gunndiodes;Methodsformeasuring;Microwavetubes;Microwaves;Schottky;Semiconductordevices;Semiconductordiodes;Transistors
【摘要】:ReplacesthetitlesofchapterII(now:Variablecapacitancediodes,snap-offdiodesandfast-switchingSchottkydiodes)andsectiontwo(now:Snap-offdiodes,Schottkydiodes),addssubclause4.3(including4.3.1to4.3.6)tochapterII,clauses1to4
【中国标准分类号】:L43
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_30
【页数】:51P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管修改1
【标准号】:IEC60747-4AMD1-1993
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1993-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Electricalengineering;Gunndiodes;Methodsformeasuring;Microwavetubes;Microwaves;Schottky;Semiconductordevices;Semiconductordiodes;Transistors
【摘要】:ReplacesthetitlesofchapterII(now:Variablecapacitancediodes,snap-offdiodesandfast-switchingSchottkydiodes)andsectiontwo(now:Snap-offdiodes,Schottkydiodes),addssubclause4.3(including4.3.1to4.3.6)tochapterII,clauses1to4
【中国标准分类号】:L43
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_30
【页数】:51P;A4
【正文语种】:英语
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